顱內腦電圖對癲癇發作模式的研究對癲癇灶的精確定位和指導成功切除有重要作用。它也引出了癲癇發生機制相關的重要病理生理問題。目前，植入硬膜下和深部電極等記錄方式已經描述了幾種癲癇發作模式 (主要是顳葉癲癇和伴有異質新皮層病變的癲癇)。研究分析了53例患者的連續性隊列資料，所有患者均行立體定向腦電圖 (SEEG) 監測，且病理證實為皮質發育畸形 (Malformation of cortical development, MCD)——局灶性皮質發育不良 (Focal cortical dysplasia, FCD) 和神經發育腫瘤 (Neurodevelopmental tumors, NDTs)。通過對視覺和時間-頻率的分析，證實了存在6種癲癇發作模式：低壓快波活動 (Low-voltage fast activity, LVFA)；發作前棘波繼之LVFA；爆發性多棘波繼之LVFA；慢波/直流電漂移繼之LVFA；θ或α尖波；節律性棘波/棘波。結果表明包含LVFA的模式 (83%) 普遍性較高，但是LVFA并不是癲癇發作的一個固定特征。癲癇發作模式和組織學類型具有相關性 (P=0.01)。更加普遍的模式如下：① FCD Ⅰ型：LVFA占23.1%，慢波/基線漂移繼之LVFA占15.4%；② FCD Ⅱ型：爆發性多棘波繼之LVFA占31%，LVFA占27.6%；發作前棘波繼之LVFA占27.6%；③ NDTs：LVFA占54.5%。發現包含LVFA的癲癇發作模式與較好的手術預后具有相關性，但癲癇灶切除的完整性是一個獨立預測因子；FCD和NDTs有6種不同的癲癇發作模式；包含LVFA的癲癇發作模式的患者手術預后更好。