癲癇是最常見的慢性腦部疾病之一，其中藥物難治性癲癇比例為 20%～30%，目前癲癇手術治療是難治性癲癇的唯一手段，而術前準確定位致癇病灶則是手術成敗的關鍵。發作期單光子計算機斷層減影與核磁共振融合成像術（Subtraction ictal single-photon emission computed tomography coregistered to MRI，SISCOM）作為一種全新的技術為癲癇致癇灶的準確定位翻開了新篇章，它克服了傳統單光子發射計算機斷層成像術（SPECT）空間分辨率不足的缺點，其成像的敏感性與特異性已被證實較單純的發作期與發作間期 SPECT 成像增加，特別是對于核磁共振（MRI）陰性和顳葉外的癲癇患者，另外 SISCOM 在預測癲癇術后效果方面也具有獨特價值。文章就 SISCOM 技術應用介紹、致癇灶定位的準確性、預測術后效果、基于 SISCOM 的新理念以及未來的發展等方面做一綜述。